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X-RAY对电子元器件非破坏性检测实例

作者: 卓茂光电X-RAY发表时间:2019-09-03 16:35:58

X-RAY又称X射线,是一种强辐射、强穿透力的光线,具有频率高、波长短的特征,针对于不同的物质,X-RAY穿透的程度不一样,探测器利用了这一点,通过对穿透过来的光进行吸收处理,将信号传输到电脑端,形成显示影像,通过影像我们可以实时的看到检测产品的瑕疵问题。

X-RAY又称X射线,是一种强辐射、强穿透力的光线,具有频率高、波长短的特征,针对于不同的物质,X-RAY穿透的程度不一样,探测器利用了这一点,通过对穿透过来的光进行吸收处理,将信号传输到电脑端,形成显示影像,通过影像我们可以实时的看到检测产品的瑕疵问题。

如上图:X光管发射X射线穿透待检测产品(依据不同物质对光线吸收的不同),穿透的光线落在探测器上形成明暗不同的光斑,显示器实时对其进行监测识别,是当前非破坏检测产品内部缺陷分析有效率且快速的方法,X-ray可检测待测物内部结构及是否有缺陷、空洞(Void)、Crack等异常。

探测器将接收到的信号传输到显示端,形成如上图的影像图。

X-RAY检测设备不仅具备检测产品缺陷的功能,还可以实时对检测出的产品缺陷进行标注,如缺陷尺寸、大小、轮廓等,让不懂技术的管理者也能轻易的发现问题,解决问题。


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