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作者： 卓茂光电X-RAY发表时间：2022-08-25 17:04:17
IC芯片由大量的微电子元件构成，所以也称为集成电路。一块小小的芯片，却聚集了那么多电子元件，检测难度可想而知。如今，x-ray检测被各行业广泛应用，它在IC芯片上的应用会是怎样的呢？与传统的检测方法有什么不同呢？我们一起来看看吧。
芯片越来越追求小型化、低功耗设计，电路越来越精确，检测难度越来越高，传统的剥离芯片的检测方法，是将芯片层层剥离，再通过显微镜拍摄的方式来检测芯片的表面缺陷。这种方法不仅对缺陷的检测不全面，而且会对芯片造成损坏。
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